產(chǎn)品簡介

 薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)用于測量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；該儀器具有測量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、測試完畢后高壓短路放電保護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，儀器的最一高量程10^17Ω電阻值。

技術(shù)參數(shù)

電阻范圍：（10⁴ ～10 ¹⁷）Ω。

電阻測量誤差：    1×10⁴～1×10⁹ Ω±1%；

  1×10⁹～1×10¹² Ω±1.5%；

1×10¹²～1×10¹⁷ Ω±5%；         

    測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

絕緣電阻

通常采用絕緣電阻測試儀(又稱高阻計(jì)、兆歐表)進(jìn)行測量。規(guī)定以加電壓60s后測得的數(shù)值為該試品的絕緣電阻。

當(dāng)被試品絕緣中存在貫通的集中性缺陷時(shí)，反映Ig的絕緣電阻往往明顯下降，于是用絕緣電阻表檢查時(shí)便可以發(fā)現(xiàn)。但對于許多電氣設(shè)備，例如電機(jī)，反映Ig的絕緣電阻往往變動(dòng)甚大，因?yàn)樗偤捅辉嚻返臏囟燃绑w積尺寸有關(guān)系，往往難以給出一定的絕緣電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)。通常把處于同樣運(yùn)行條件下的不同相的絕緣電阻進(jìn)行比較，或是把這一次測得的絕緣電阻和過去在相近溫度下對它測出的絕緣電阻進(jìn)行互相比較來發(fā)現(xiàn)問題。

需要注意的是，有時(shí)，雖然某些集中性缺陷已發(fā)展得很嚴(yán)重，以致在耐電壓試驗(yàn)中被擊穿，但耐電壓試驗(yàn)前測出的絕緣電阻值和吸收比卻都很高，這是因?yàn)檫@些缺陷雖然嚴(yán)重，但還沒有貫通的緣故。因此，只憑絕緣電阻的測量來判斷絕緣是不可靠的，但它畢竟是一種簡單而有一定效果的方法，故使用十分普遍。

常用接線方法

ZST-212薄膜體積表面電阻測試儀 航天偉創(chuàng)用三電極系統(tǒng)測試絕緣材料的體積電阻和表面電阻。

屏蔽箱內(nèi)三個(gè)接線端子，左側(cè)測試端插黑線，接下電極（直徑最大的圓柱電極），中間插入圓柱電極（測試電極），右側(cè)插紅線，接圓環(huán)電極。